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Description
Cet ouvrage est composé de quatre chapitres. Dans le premier chapitre sont traitées les notions de base du réseau direct, introduites au niveau du premier cycle universitaire. Le concept de réseau réciproque est développé dans une deuxième partie de façon à introduire la résolution de problèmes de diffraction des rayons X.
Le chapitre 2 est totalement consacré à la caractérisation des poudres par la diffraction des rayons X.
Le chapitre 3 aborde la cristallochimie des dérivations structurales à partir des structures usuelles. Les notions plus délicates de transitions ordre/désordre et des défauts de structures sont introduites dans le cas de la wustite, zircone, oxyde de titane etc.
Le chapitre 4 est consacré à l'étude des aluminosilicates.
Sujets
Informations
Publié par | Edilivre |
Date de parution | 25 novembre 2015 |
Nombre de lectures | 2 |
EAN13 | 9782334021388 |
Langue | Français |
Poids de l'ouvrage | 39 Mo |
Informations légales : prix de location à la page 0,0135€. Cette information est donnée uniquement à titre indicatif conformément à la législation en vigueur.
Extrait
Couverture
Copyright
Cet ouvrage a été composé par Edilivre
175, boulevard Anatole France – 93200 Saint-Denis
Tél. : 01 41 62 14 40 – Fax : 01 41 62 14 50
Mail : client@edilivre.com
www.edilivre.com
Tous droits de reproduction, d’adaptation et de traduction,
intégrale ou partielle réservés pour tous pays.
ISBN numérique : 978-2-334-02136-4
© Edilivre, 2015
Avant-propos
Références bibliographiques
Chapitre 1 : Éléments de cristallographie
Chapitre 2 : La diffraction des rayons x
Chapitre 3 : Cristallochimie
Chapitre 4 : La silice et les silicates