Encart A4/Verso 2004

Encart A4/Verso 2004

Documents
1 page
Lire
Le téléchargement nécessite un accès à la bibliothèque YouScribe
Tout savoir sur nos offres

Description

Encart A4-Verso 2010:Encart A4/Verso 2004 15/09/09 15:48 Page 1
Mardi 01 juin Mercredi 02 juin Jeudi 03 juin Vendredi 04 juin
8:00 – 9:30
Inscriptions - émargement 8:30 – 10:00 8:30 – 10 ...

Sujets

Informations

Publié par
Nombre de lectures 198
Langue Français
Signaler un problème
Mardi 01 juin 8:00 – 9:30 Inscriptions - émargement 9:30 – 10:00
Ouver tureet présentation de l’atelier
10:00 – 12:00 Session n°1Tutorial 1 Composants Diagnostic Hyper &électrique Opto III-V
Déjeuner 14:00 – 15:30
Session n°2 Interconnexions : report et packaging
Tutorial 2 Techniques d’analyse de défaillance des VLSI
16:00 – 17:30 Session n°2Tutorial 2 Interconnexions :Techniques report etd’analyse de packaging défaillance des VLSI
Mercredi 02 juin
Jeudi 03 juin
Vendredi 04 juin
8:30 – 10:008:30 – 10:009:00 – 10:00 Session N°3Micro-atelier n°1Tutorial 3Micro-atelier n°3Tutorial 4Micro-atelier n°4 Vers le 32nm, ESD Préparation Localisation et Analyse Interconnexions, nouvelles briques caractérisation d’échantillons de défaillancereport et technologiques, nou-électrique de défauts des VLSIpackaging veauxmécanismes dans les VLSI de défaillance 10:30 – 12:0010:30 – 12:0010:30 – 12:00 Session n°3Micro-atelier n°1Session n°5Micro-atelier n°3Tutorial 4Micro-atelier n°4 Analyse deVers le 32nm,Préparation Interconnexions, DéfiabilisationLocalisation et défaillance caractérisationnouvelles briquesd’échantillons report etdes composants des VLSIélectrique detechnologiques, nou-packaging enutilisation défauts dansveaux mécanismes les VLSI de défaillance Déjeuner Déjeuner12:00 – 13:00 : BILAN 14:00 – 15:3014:00 – 15:30Déjeuner 14:30 : Départ Session n°4Micro-atelier n°2Session n°5Micro-atelier n°3 Technologies et Analyse etDéfiabilisation Localisationet mécanismes decaractérisation descomposants caractérisation défaillance desphysique enutilisation électriquede composants dedéfauts dans lesATELIER 2010 des VLSI puissance VLSI ÈME 16:00 – 17:3016:00 – 17:3012 ATELIER Session n°4Micro-atelier n°2Session n°6 Technologies etNouveaux objets Analyse et mécanismes decaractérisation Nouveauxdéfis défaillance desphysique des VLSI composants de puissance