Rayons X et matière RX 2007

René Guinebretière, Philippe Goudeau

Description

Cet ouvrage collectif présente un état des lieux des différents aspects de l'étude de la matière condensée au moyen de l'analyse de son interaction avec les rayons X. Il fait suite au colloque Rayons X et Matière - RX 2007 et rassemble les contributions de spécialistes présentant leur discipline de manière pédagogique. Les domaines scientifiques étudiés portent sur : - l'utilisation des faisceaux sub-micrométriques de rayons X pour la réalisation de mesures de diffusion et de diffraction sur des matériaux nanostructurés, - la combinaison de la diffraction des rayons X et de la microscopie électronique pour déterminer la structure de composés complexes, - l'utilisation de dispositif de lévitation pour analyser des oxydes à l'état liquide à très haute température, et la diffraction haute résolution avec des faisceaux cohérents pour caractériser des nanostructures épitaxiées. Enfin, le dernier chapitre propose un regard sur notre monde où le lecteur observe ce qui l'entoure en analysant l'ensemble du spectre électromagnétique.

Préface -R. GUINEBRETIERE, Ph. GOUDEAU. In memoriam. Hommage à Jean Pannetier -M. ANNE. Chapitre 1. L'exploration de la matière molle et biologique à l'aide de faisceaux synchrotrons micro- et nanométriques -C. RIEKEL. Chapitre 2. Combinaison de techniques pour la détermination de structures zéolithes complexes -L. B. MCCUSKER, C. BAERLOCHER. Chapitre 3. Étude de matériaux fondus par diffusion et diffraction des rayons X -L. HENNET. Chapitre 4. Étude de nanostructures de semi-conducteurs par rayonnement synchrotron -V. FAVRE-NICOLIN. Chapitre 5. Petit atlas de la lumière -P VAN BALLMOOS.

Sujets

• Sciences expérimentales
• Physique
• Techniques
• Ingénieurie et sciences appliquées
• Ingénieurie et sciences appliquées
• Sciences appliquées
• Ingénierie
• Sciences appliquées
• Sciences appliquées
• Ingénierie
• Sciences physiques
• Électromagnétisme
• Science
• Matériau
• Physique de la matière condensée
• Science de la nature
• Physical attractiveness
• Sciences et techniques
• Matériaux
• Sciences fondamentales
• Sciences

Informations

• Publié par: Hermès - Editions Lavoisier
• Date de parution: 08 septembre 2009
• Nombre de lectures: 68
• EAN13: 9782746236899
• Licence : Tous droits réservés
• Langue: Français
• Poids de l'ouvrage: 20 Mo

Extrait

Rayons X et matière

© LAVOISIER, 2009 LAVOISIER 11, rue Lavoisier 75008 Paris www.hermesscience.com www.lavoisier.fr ISBN 9782746220980 Le Code de la propriété intellectuelle n'autorisant, aux termes de l'article L. 1225, d'une part, que les "copies ou reproductions strictement réservées à l'usage privé du copiste et non destinées à une utilisation collective" et, d'autre part, que les analyses et les courtes citations dans un but d'exemple et d'illustration, "toute représentation ou reproduction intégrale, ou partielle, faite sans le consentement de l'auteur ou de ses ayants droit ou ayants cause, est illicite" (article L. 1224). Cette représentation ou reproduction, par quelque procédé que ce soit, constituerait donc une contrefaçon sanctionnée par les articles L. 3352 et suivants du Code de la propriété intellectuelle. Tous les noms de sociétés ou de produits cités dans cet ouvrage sont utilisés à des fins d’identification et sont des marques de leurs détenteurs respectifs. Printed and bound in England by Antony Rowe Ltd, Chippenham, September 2009.

Rayons X et matière

RX 2007 sous la direction de Philippe Goudeau René Guinebretière

Liste des auteurs Michel A NNE Institut Néel Grenoble ChristianB AERLOCHER Laboratory of Crystallography ETH Zurich Suisse Vincent F AVRE -N ICOLIN CEA INAC Grenoble Philippe G OUDEAU PHYMAT Université de Poitiers René G UINEBRETIÈRE SPCTS ENSCI Limoges

Louis H ENNET CEMHTI Orléans Lynne B. M C C USKER Laboratory of Crystallography ETH Zurich Suisse Jean-ClaudeN IEPCE Institut Carnot Université de Bourgogne Dijon ChristianR IEKEL ESRF Grenoble Peter VAN B ALLMOOS CESR Toulouse

T ABLE DES MATIÈRES

Préface . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13 René G UINEBRETIÈRE et Philippe G OUDEAU

In memoriam.Hommage à Jean Pannetier 17. . . . . . . . . . . . . . . . . . . Michel A NNE etJean-ClaudeN IEPCE

Chapitre 1. L’exploration de la matière molle et biologique à l’aide de faisceaux synchrotrons micro et nanométriques. . . . . . . . . . . . 21 ChristianR IEKEL 1.1. Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21 1.2. Systèmes micro- et nano-optiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23 1.3. Applications sur les fibres de polymères . . . . . . . . . . . . . . . . 24 1.4. Couplage micro diffraction/micro-Raman . . . . . . . . . . . . . . . 27 1.5. Applications sur des microcristaux . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29 1.6. Remerciements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32 1.7. Bibliographie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32

Chapitre 2. Combinaison de techniques pour la détermination de structures zéolithes complexes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35 Lynne B. M C C USKER et Christian B AERLOCHER 2.1. Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35 2.2. L’algorithmeFocus37. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.3.Charge-flipping . 39. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

8 Rayons X et matière – RX 2007

2.3.1. Principe de la méthode. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39 2.3.2. Adaptation aux données de diffraction sur poudres . . . . . . 40 2.4. Microscopie électronique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41 2.4.1. Diffraction électronique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41 2.4.2. Microscopie électronique en transmission à haute résolution (MET-HR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42 2.5. Enveloppes structurales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42 2.6. Combinaison de la diffraction sur poudres et de la microscopie électronique. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43 2.6.1. TNU-9 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44 2.6.2. IM-5 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48 2.7. Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53 2.8. Remerciements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54 2.9. Bibliographie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54

Chapitre 3. Etude de matériaux fondus par diffusion et diffraction des rayons X . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57 Louis H ENNET 3.1. Les méthodes sans contact . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57 3.1.1. Pourquoi utiliser les techniques de lévitation ? . . . . . . . . 57 3.1.2. Les techniques de lévitation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58 3.1.2.1. La lévitation électromagnétique. . . . . . . . . . . . . . . 58 3.1.2.2. La lévitation acoustique. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59 3.1.2.3. La lévitation électrostatique . . . . . . . . . . . . . . . . . 59 3.1.2.4. La lévitation sur film de gaz . . . . . . . . . . . . . . . . . 60 3.1.2.5. La lévitation aérodynamique . . . . . . . . . . . . . . . . 60 3.1.2.6. Combinaison de techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . 61 3.1.3. Mesure de la température : la pyrométrie optique . . . . . . . 62 3.2. Etude structurale de matériaux à l’état fondu . . . . . . . . . . . . . 63 3.2.1. Que cherche-t-on à déterminer ? . . . . . . . . . . . . . . . . . 63 3.2.2. Les développements techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66