microscopie electronique par transmission en sciences des ...

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microscopie electronique par transmission en sciences des ...

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Microscopie électronique par transmission en sciences des matériaux : pratique et dépouillement informatique

2008-VIII-06

OBJECTIFS Ce stage est consacré à une introduction générale de la microscopie électronique et à l’approfondissement de certains aspects de la microscopie conventionnelle, grâce notamment à l’utilisation de logiciels dédiés : EMS, W-SIMPLY, Diffraction-Workshop, PCTWO, X-RES.

PUBLIC

Chercheurs, ingénieurs, universitaires ayant acquis une première expérience de la technique.

PROGRAMME Le stage se déroule en deux périodes pour couvrir une durée totale de sept jours. La première période de trois jours traite des aspects théoriques de cristallographie - réseau réciproque - diffraction électronique - contraste conventionnel, couplés à des applications de la diffraction et à l’analyse des défauts cristallins. La seconde période de quatre jours est consacrée aux aspects d’imagerie de haute résolution (théorie de la formation des images et leur simulation), d’imagerie en Champ Sombre Annulaire à Grand Angle (HAADF) et de spectroscopies EDX et EELS. Des séances pratiques sur microscopes et l’emploi de logiciels spécifiques soutiennent chacune de ces 2 parties. Ce programme est couvert par des enseignements sous forme de cours, TD, TP répartis comme suit : Cours théoriques - principes physiques de la diffraction électronique, - contraste en microscopie conventionnelle, - aspects théoriques de la microscopie à haute résolution, - aspects théoriques liés à la détection et à la quantification en EDX et EELS. Travaux dirigés - indexation cohérente des diagrammes de diffraction : utilisation de logiciels d’exploitation automatique - projection stéréographique, - aspects particuliers de la diffraction : relation diffraction-défauts structuraux - effets dynamiques - franges de pendellösung - symétries cristallines, - simulation du contraste de dislocations et de fautes d’empilement en deux ondes, - introduction à la pratique de la simulation des images de haute résolution. Travaux pratiques - instrumentation et pratique du microscope, - diffraction et écart de Bragg. Orientation d’un cristal. Mise en contraste, - imagerie de haute résolution : réglages, alignements (assistés par logiciels) et pratique, - introduction au mode d’imagerie HAADF en STEM, - microanalyse EDX : pratique de l’acquisition et utilisation de logiciels de traitement, - microanalyse EELS : pratique de l’acquisition et utilisation du logiciel de traitement. Le programme peut être infléchi, à la demande, vers des aspects particuliers (microscopie conventionnelle, haute résolution, microanalytique). Tél. : [phone] - Fax : [phone] - e-mail : [e-mail] RESPONSABLES Thierry EPICIER Directeur de Recherche J Gilbert THOLLET LIEU : VILLEURBANNE (69) Ingénieur de Recherche F ORGANISATION :3 jours plus 4 jours M 5 stagiaires au maximum. A Horaires : 9 h  12 h et 14 h 30  18 h. M LABORATOIRESLes TP sur les microscopes METC et METHR représentent 6 séances. J Groupe d’Etudes de Métallurgie COUT : 1500 Euros Physique et de Physique des J 2008-VIII-06 Matériaux A DATE DU STAGE : Stage à la carte. UMR 5510 S Nous consulter O N D CNRS Formation Entreprises, Avenue de la Terrasse  Bât. 31,91198 GifsurYvette Tél. :[phone]Fax :[phone]Internet :http://cnrsformation.cnrsgif.fr 103