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Etude des oscillations THz dans des systèmes en InGaAs Lionel Duvillare Jérémy Pousset, Jean-François Millithaler, Giulio Sabatini, Hugues Marinchio, Christophe Palermo, Luca Varani Institut d'Electronique du Sud, UMR 5214 Université Montpellier II place Eugène Bataillon 34095 Montpellier Cedex 5 Javier Mateos, Susana Perez, Tomas Gonzalez, Daniel Pardo Dpto. Fisica Aplicada, Université de Salamanque Espagne Résumé : Nous avons étudié les oscillations électriques dans le domaine TeraHertz à travers l’analyse du bruit, calculé à partir de simulations Monte Carlo. Les résultats montrent la présence de résonances attribuées à des modes de plasma bidimensionnels et tridimensionnels en très bon accord avec le modèle analytique des ondes de plasma. Les applications dans le domaine des ondes TeraHertz sont nombreuses mais leur développement requiert des sources et des détecteurs compacts et bon marché. Un composant électronique facilement intégrable dans des circuits à haute fréquence est potentiellement candidat aux applications TeraHertz: le transistor à haute mobilité électronique (HEMT). En effet, des expériences récentes ont relaté 1,2l'émission et la détection d'ondes THz par celui-ci . Notre objectif est d'étudier et de comprendre les phénomènes physiques responsables de ce comportement à très haute fréquence. Pour cela nous avons effectué des simulations microscopiques, basées sur la méthode Monte Carlo, sur des dispositifs de ...

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Langue Français

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Etude des oscillations THz dans des systèmes en InGaAs
Lionel Duvillare Jérémy Pousset, Jean-François Millithaler, Giulio Sabatini,
Hugues Marinchio, Christophe Palermo, Luca Varani
Institut d'Electronique du Sud, UMR 5214 Université Montpellier II
place Eugène Bataillon 34095 Montpellier Cedex 5
Javier Mateos, Susana Perez, Tomas Gonzalez, Daniel Pardo
Dpto. Fisica Aplicada, Université de Salamanque Espagne
Résumé : Nous avons étudié les oscillations électriques dans le domaine TeraHertz à travers
l’analyse du bruit, calculé à partir de simulations M onte Carlo. Les résultats montrent la présence
de résonances attribuées à des modes de plasma bidimensionnels et tridimensionnels en très bon
accord avec le modèle analytique des ondes de plasma.
Les applications dans le domaine des ondes TeraHertz sont nombreuses mais leur
développement requiert des sources et des détecteurs compacts et bon marché. Un
composant électronique facilement intégrable dans des circuits à haute fréquence
est potentiellement candidat aux applications TeraHertz: le transistor à haute
mobilité électronique (HEMT). En effet, des expériences récentes ont relaté
l'émission et la détection d'ondes THz par celui-ci
1,2
. Notre objectif est d'étudier et
de comprendre les phénomènes physiques responsables de ce comportement à très
haute fréquence. Pour cela nous avons effectué des simulations microscopiques,
basées sur la méthode Monte Carlo, sur des dispositifs de complexité croissante,
en partant de la zone active du HEMT (le canal d'In
0.53
Ga
0.47
As) puis en
s'approchant du système complet. Pour étudier des comportements oscillatoires
aux fréquences THz, nous avons calculé la densité spectrale de bruit S(f) à partir
de la transformée de Fourier de l’autocorrélation de la tension et du courant. Nous
avons ainsi étudié deux systèmes : le barreau simple et le barreau entouré d’un
isolant. Nous avons observé la présence d’oscillations aux fréquences TeraHertz
dans ces systèmes. La dépendance de ces oscillations à la concentration de
dopants et la géométrie des systèmes a été étudiée et comparée au modèle
analytique des ondes de plama
3
. Ce modèle analytique décrit la fréquence des
oscillations
3D
et
2D
par les équations :
e
est la charge élémentaire,
n
la concentration électronique,
m
la masse
effective,
εε
0
la permittivité du matériau
et
L
la longueur du canal. L’étude du
bruit des variations en tension et en courant que nous avons effectué à mis en
évidence la présence d’oscillations ‘3D’ dans le cas du barreau d'In
0.53
Ga
0.47
As
seul dont la fréquence et sa dépendance à la concentration est en bon accord avec
le modèle analytique comme on le voit sur la figure 1g :
Figure 1 : (gauche) : Fréquence des pics d’oscillations, dans le barreau, en fonction de la longueur
et de la concentration. Les droites représentent la fréquence théorique du modèle des ondes de
plasma et les symboles les résultats des simulations. (droite) : Fréquence des pics d’oscillations,
dans un barreau entouré de diélectrique, en fonction de la longueur et de la concentration. Les
courbes représentent la fréquence théorique du modèle et
les points les résultats des simulations
Dans le dispositif constitué du même barreau entouré d’isolant, le diélectrique est
ici utilisé pour résoudre l’équation de poisson à l’extérieur du canal et ainsi nous
permettre d’étudier l’influence des lignes de champ sur le plasma. Nous avons
observé des oscillations de type
2D
dont la fréquence dépends de la concentration
mais aussi de la longueur du canal (figure 1d).
Nous avons étudié le transport électronique dans le canal du HEMT et la présence
d’oscillations
2D
et
3D
aux fréquences TeraHertz y a été mise en évidence par
des simulations microscopiques. La dépendance à la densité électronique ainsi
qu’à la longueur du canal des oscillations obtenues est en très bon accord avec le
modèle analytique des ondes de plasma. Pour déterminer si les oscillations THz
observées expérimentalement sur des HEMT sont bien des ondes de plasma, il
faut encore poursuivre cette étude sur des dispositifs approchant de plus en plus la
structure complète du HEMT mais ces premiers résultats semblent aller dans ce
sens.
Références
[1] Knap, J. Lusakowski, T. Parenty, S. Bollaert, A. Cappy,V. V. Popov, M. S. Shur ”Terahertz emission by
plasmawaves in 60 nm gate high electron mobility transistors”. J. Appl. Phys., V 97, N 6, p.64307, 2005.
[2] A. El Fatimy, F. Teppe, N. Dyakonova,W. Knap, D. Seliuta, G. Valusis,A. Shchepetov, Y. Roelens, S.
Bollaert, and A. Cappy, and S. Rumyantsev ”Resonant and voltage-tunable terahertz detection in InGaAs/InP
nanometer transistors”. Appl. Phys. Lett. 89, 131926, 2006.
[3] M. Dyakonov and M. Shur ”Shallow water analogy for a ballistic field effect transistor : New mechanism of
plasma wave generation by dc current”. Phys. Rev. Lett., 71, pp.2465-2468 (1993).
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