Fiabilité mécanique des assemblages électroniques utilisant des alliages du type SnAgCu, Mechanical reliability of SnAgCu electronic assemblies

Benoît Dompierre

Description

Sous la direction de Eric Charkaluk, Véronique Aubin
Thèse soutenue le 31 mars 2011: Ecole Centrale de Lille
Depuis la restriction de l’utilisation du plomb dans l’électronique, les alliages de brasure de type SnPb ont été remplacés majoritairement par des alliages de type SnAgCu (SAC). Des travaux précédents ont révélé un phénomène de vieillissement de ces alliages, caractérisé par une forte variation des propriétés mécaniques et se stabilisant après plusieurs années à température ambiante. L’objectif de ce travail est d’étudier l’influence du vieillissement thermique sur l’endommagement des assemblages électroniques utilisant l’alliage SAC305 sous chargements mécaniques.L’étude s’est d’abord concentrée sur le comportement mécanique du SAC305, puis sur l’endommagement des joints brasés.L’impact du vieillissement sur le comportement mécanique a été évalué à l’échelle massive ainsi qu’à l’échelle d’un joint brasé. L’évolution de la dureté et du comportement mécanique cyclique à température ambiante a été reliée à un phénomène de grossissement de grain. Des essais de compression sur billes en SAC305, représentatives de la structure réelle, ont montré les mêmes évolutions. Deux modèles de comportement viscoplastique ont été développés à l’échelle d’un joint brasé pour l’alliage dans l’état initial et dans l’état vieilli. Des simulations numériques réalisées à l’aide de ces modèles, ont permis de valider cette approche.L’influence du vieillissement sur l’endommagement des joints brasés en SAC305 a été évaluée à l’aide d’essais de torsion cycliques sur cartes assemblées. Les résultats montrent que le vieillissement induit une diminution du nombre de cycles à la défaillance en fatigue oligocyclique, élément très important pour la gestion du risque dans les équipements électroniques
-Alliages SnAgCu
-Vieillissement thermique
-Assemblages électroniques
-Comportement mécanique
-Endommagement en fatigue
-Croissance de grains
Since the use of the lead was restricted in electronic assemblies, the electronic market turned on lead-free alloys for electronic assemblies. Most of electronic manufacturers chose SnAgCu (SAC) to replace SnPb alloys. For SAC, former results suggest that high temperature thermal ageing causes a significant drop in mechanical properties, which stabilises after several years at room temperature. The aim of this work is to analyse the impact of thermal ageing on the fatigue damage of SAC305 electronic assemblies under mechanical loadings.This study first focused on the mechanical behaviour of SAC305 alloy. Then, the fatigue damage of SAC305 was analysed on solder joints.The impact of thermal ageing on the mechanical behaviour of SAC305 was evaluated at the bulk scale and at the solder joint scale. Changes in the hardness and in the cyclic mechanical behaviour at room temperature were linked to a grain growth phenomenon. Compression tests on SAC305 solder balls, which are representative of real structure, showed the same changes in the mechanical behaviour. Two viscoplastic constitutive models of mechanical behaviour were identified at the solder joint scale for both initial and aged conditions. Numerical simulations were carried out using these models and led to the validation of the proposed approach.The impact of thermal ageing on the fatigue damage of SAC305 alloy was evaluated thanks to torsion tests on assembled boards. The results of these tests show that the thermal ageing decreases the number of cycles to failure in low cycle fatigue. This observation is very important considering the reliability risk for electronic devices
-SnAgCu alloys
-Thermal ageing
-Electronic assemblies
-Mechanical behaviour
-Fatigue damage
-Grain growth
Source: http://www.theses.fr/2011ECLI0001/document

Informations

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• Langue: Français
• Poids de l'ouvrage: 4 Mo

Extrait

N° d’ordre : 152

ECOLE CENTRALE DE LILLE



THESE

présentée en vue
d’obtenir le grade de


DOCTEUR

en

Spécialité : Mécanique

par

Benoît Dompierre



DOCTORAT DELIVRE PAR L’ECOLE CENTRALE DE LILLE


Titre de la thèse :
Fiabilité mécanique des assemblages électroniques utilisant des alliages du type SnAgCu.

Soutenue le 31/03/11 devant le jury d’examen :

Président Luc Rémy, Directeur de recherche CNRS, Ecole des Mines de Paris
Rapporteur Karim Inal, Professeur, Ecole des Mines de Saint-Etienne
Rapporteur Thomas Pardoen, Professeur, Université Catholique de Louvain
Membre Habibou Maitournam, Professeur, Ecole Polytechnique
Membre Michel Brizoux, Directeur technique adjoint, Thales CST
Membre Wilson Maia, Responsable de projets technologiques amonts, Thales CST
Directeur de thèse Eric Charkaluk, Chargé de recherche CNRS, Ecole Centrale de Lille
Co-directeur Véronique Aubin, Professeur, Ecole Centrale de Paris

Thèse préparée dans le Laboratoire de Mécanique de Lille

Ecole Doctorale SPI 072

PRES Université Lille Nord de France
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tel-00604954, version 1 - 30 Jun 2011

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tel-00604954, version 1 - 30 Jun 2011Remerciements
Cette thèse est le fruit d’une collaboration entre la société Thales Corporate Services et le
Laboratoire de Mécanique de Lille dans le cadre d’une Convention Industrielle de Formation par
la REcherche (CIFRE).

Tout d’abord, je tiens à remercier Wilson Maia, responsable des projets technologiques
amonts chez Thales CST, pour m’avoir guidé et soutenu tout au long de cette aventure. Il n’a
ménagé ni son temps ni son énergie pour moi, et je lui dois beaucoup.
Merci aussi à Eric Charkaluk, chargé de recherche CNRS à l’Ecole Centrale de Lille,
directeur de cette thèse. Il a toujours été disponible, et m’a apporté de précieux conseils, tant sur
les plans scientifiques qu’humains.
Je souhaite exprimer également ma gratitude envers Michel Brizoux, directeur technique
adjoint de Thales EPM, qui a toujours su garder le recul suffisant pour remettre en question les
résultats et me permettre ainsi d’avancer.
Je remercie également Véronique Aubin, professeur à l’Ecole Centrale de Paris, co-
directrice de cette thèse, qui a toujours été disponible et m’a apporté de bons conseils, en
particulier lors des différentes campagnes expérimentales que j’ai menées.
A tous les quatre, je tiens à exprimer ma profonde reconnaissance. Chacun à sa façon
m’a permis d’aller jusqu’au bout de ce travail. Tous, ensemble, m’ont fait confiance et m’ont
permis d’aller encore plus loin grâce aux nombreux échanges constructifs et réunions
enrichissantes qui ont jalonné ces trois ans.

Je présente également mes remerciements les plus sincères à l’ensemble de mon jury, et
en particulier Luc Rémy, directeur de recherche CNRS à l’Ecole des Mines de Paris, pour
m’avoir fait l’honneur de présider ce jury. Je remercie également mes deux rapporteurs, Thomas
Pardoen, professeur à l’Université Catholique de Louvain, et Karim Inal, professeur à l’Ecole
des Mines de Saint-Etienne, pour avoir accepté de relire ma thèse et pour leurs commentaires
pertinents, ainsi que Habibou Maitournam, professeur à l’Ecole Polytechnique, pour son rôle
d’examinateur.

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tel-00604954, version 1 - 30 Jun 2011J’ai aussi une pensée pour toute l’équipe du service Industry and Environnement, avec
laquelle je travaille depuis mon stage de fin d’étude il y a quatre ans, et en particulier Jean-Guy
Chesnay, chef de ce service, qui m’a permis de travailler dans les meilleures conditions.
Je pense également à toute l’équipe ER3 du Laboratoire de Mécanique de Lille, et en
particulier François Lesaffre et Jean Gillibert pour leur aide précieuse.
Je souhaite aussi dire merci à Jérémie Gaillard et Florent Saliou pour m’avoir permis, au
travers de leurs stages respectifs, d’approfondir certains points essentiels pour ma thèse.
Je remercie également Ambre-Emmanuelle Grangladen, Julien Perraud, Jean-Claude
Boisdé, Joël Perrin et Julien Joguet pour avoir contribué d’une manière ou d’une autre à la
réalisation de cette thèse.

Enfin, bien évidemment, un grand merci à ma famille et à mes amis, qui m’ont supporté
durant ces trois années.


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tel-00604954, version 1 - 30 Jun 2011Avant propos
Les alliages de type SnPb (étain-plomb) sont utilisés depuis plus de cinquante ans dans
les assemblages électroniques en tant qu’alliages de brasure. La connaissance et l’expérience
acquises pendant toutes ces années ont permis de développer des méthodes robustes pour
assurer la fiabilité des produits électroniques utilisant ces alliages en milieux opérationnels. Les
alliages de brasure sans plomb sont, quant-à-eux, étudiés et utilisés de manière conséquente
depuis seulement une dizaine d’années. La connaissance de ces alliages est encore faible, et le
retour d’expérience sur leur utilisation en environnement fortement contraint est inexistant.
Or, plus la connaissance des alliages sans plomb s’améliore, plus il est évident que la
transition vers ces alliages ne peut pas être une simple évolution mais se caractérise par une
rupture technologique. La microstructure de ces alliages, généralement ternaires et non
eutectiques, est très différente de celle de l’alliage biphasé SnPb eutectique. De plus, certaines
faiblesses des alliages sans plomb ont été révélées, telles que la mauvaise tenue à basse
température, une sensibilité au fluage différente de celle des alliages SnPb ainsi qu’un
phénomène de vieillissement à température ambiante ne se stabilisant pas avant plusieurs
années.
Malgré ces différences notables entre les alliages SnPb et sans plomb, les efforts majeurs
de recherche concernant ces nouveaux alliages ont longtemps été fournis par la communauté
électronicienne, même pour la réalisation d’essais mécaniques standards. Cette démarche a eu
pour conséquence l’arrivée de nombreux résultats en apparence contradictoires car les
méthodologies employées n’étaient pas toujours les plus adaptées à ces alliages pour les
utilisations électroniques.
A partir de ce constat, il est apparu crucial d’aborder la thématique des alliages sans
plomb en commençant par la compréhension du matériau en lui-même (comportement
mécanique, microstructure) pour finir par la structure complète (endommagement des joints
brasés d’un assemblage électronique). Dans cette optique, un travail commun entre un
laboratoire de recherche dans le domaine de la mécanique des matériaux – le Laboratoire de
Mécanique de Lille – et une entreprise ayant une solide expérience dans les assemblages
électroniques – Thales – a semblé être une solution adaptée pour aborder la thématique des
alliages sans plomb. Cette association a permis de solliciter, dans chacun des domaines, les
compétences les plus adéquates et souvent complémentaires.
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tel-00604954, version 1 - 30 Jun 2011Par conséquent, dans ce document, un effort notable a été déployé afin de synthétiser les
résultats et les conclusions de cette thèse portant sur l’impact du vieillissement sur le
comportement et l’endommagement de l’alliage SAC305, tout en étant compréhensible par la
communauté des mécaniciens et celle des électroniciens. Ceci explique que certains passages de
ce document peuvent paraître trop, ou trop peu, approfondis pour l’une ou l’autre des
communautés.

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tel-00604954, version 1 - 30 Jun 2011Table des matières
Introduction 11
Chapitre I : Contexte et objectif de l'étude 15
I.1 Introduction..........................................................................................................16
I.2 Equipements électroniques ..................................................................................17
I.2.1 Composants électroniques
I.2.2 Carte de circuit imprimé
I.2.3 Joint de brasure
I.2.4 Synthèse
I.3 Alliages de type SAC...........................................................................................24
I.3.1 Microstructure des alliages de type SAC
I.3.2 Paramètres influents pour la microstructure et le comportement
mécanique des alliages de type SAC
I.3.3 Synthèse
I.4 Endommagement et comportement mécanique des alliages