Encart A4/Verso 2004

Description

Encart A4-Verso 2010:Encart A4/Verso 2004 15/09/09 15:48 Page 1
Mardi 01 juin Mercredi 02 juin Jeudi 03 juin Vendredi 04 juin
8:00 – 9:30
Inscriptions - émargement 8:30 – 10:00 8:30 – 10 ...

Sujets

• Intégration à très grande échelle
• Insuffisance cardiaque
• Composant électronique
• Numéro Treize
• Nouba
• Phoque commun

Informations

• Publié par: Ewlo
• Nombre de lectures: 198
• Langue: Français

Extrait

Mardi 01 juin 8:00 – 9:30 Inscriptions - émargement 9:30 – 10:00

Ouver tureet présentation de l’atelier

10:00 – 12:00 Session n°1Tutorial 1 Composants Diagnostic Hyper &électrique Opto III-V

Déjeuner 14:00 – 15:30

Session n°2 Interconnexions : report et packaging

Tutorial 2 Techniques d’analyse de défaillance des VLSI

16:00 – 17:30 Session n°2Tutorial 2 Interconnexions :Techniques report etd’analyse de packaging défaillance des VLSI

Mercredi 02 juin

Jeudi 03 juin

Vendredi 04 juin

8:30 – 10:008:30 – 10:009:00 – 10:00 Session N°3 Micro-atelier n°1 Tutorial 3Micro-atelier n°3Tutorial 4Micro-atelier n°4 Vers le 32nm, ESD Préparation Localisation et Analyse Interconnexions, nouvelles briques caractérisation d’échantillons de défaillance report et technologiques, nou- électrique de défauts des VLSI packaging veaux mécanismes dans les VLSI de défaillance 10:30 – 12:0010:30 – 12:0010:30 – 12:00 Session n°3Micro-atelier n°1Session n°5Micro-atelier n°3Tutorial 4Micro-atelier n°4 Analyse de Vers le 32nm, Préparation Interconnexions, Défiabilisation Localisation et défaillance caractérisation nouvelles briques d’échantillons report et des composants des VLSI électrique de technologiques, nou- packaging enutilisation défauts dans veaux mécanismes les VLSI de défaillance Déjeuner Déjeuner 12:00 – 13:00 : BILAN 14:00 – 15:3014:00 – 15:30 Déjeuner 14:30 : Départ Session n°4Micro-atelier n°2Session n°5Micro-atelier n°3 Technologies et Analyse et Défiabilisation Localisationet mécanismes de caractérisation des composants caractérisation défaillance des physique en utilisation électriquede composants de défauts dans les ATELIER 2010 des VLSI puissance VLSI ÈME 16:00 – 17:3016:00 – 17:30 12 ATELIER Session n°4Micro-atelier n°2Session n°6 Technologies etNouveaux objets Analyse et mécanismes decaractérisation Nouveauxdéfis défaillance des physique des VLSI composants de puissance