Advanced analysis techniques for x-ray reflectivities [Elektronische Ressource] : theory and application / vorgelegt von Klaus Martin Zimmermann

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• Physik

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• Publié par: technischen_universitat_dortmund
• Publié le: 01 janvier 2005
• Nombre de lectures: 16
• Langue: English
• Poids de l'ouvrage: 8 Mo

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