Characterization of surface defects produced with focused ion beams and exploration of applications for controlled growth of nanostructures [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Farhad Ghaleh

Farhad Ghaleh

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• Physik

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• Publié par: technischen_universitat_dortmund
• Publié le: 01 janvier 2008
• Nombre de lectures: 21
• Langue: English
• Poids de l'ouvrage: 15 Mo

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