Characterization of the imaging performance of the simultaneously counting and integrating X-ray detector CIX [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Johannes Fink

Johannes Fink

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• Physik

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• Publié par: rheinische_friedrich-wilhelms-universitat_bonn
• Publié le: 01 janvier 2009
• Nombre de lectures: 6
• Langue: English
• Poids de l'ouvrage: 5 Mo

Extrait

Characterization of the Imaging
Performance of the Simultaneously
Counting and Integrating X-ray Detector
CIX
Dissertation
zur
Erlangung des Doktorgrades (Dr. rer. nat.)
der
Mathematisch-Naturwissenschaftlichen Fakult at
der
Rheinischen Friedrich-Wilhelms-Universit at Bonn
vorgelegt von
Johannes Fink
aus
Neuwied
Bonn 2009Angefertigt mit Genehmigung der Mathematisch-Naturwissenschaftlichen Fakult at der
Rheinischen Friedrich-Wilhelms-Universit at Bonn
1. Referent: Prof. Dr. N. Wermes
2. Referent: Prof. Dr. H. Schmieden.
Tag der Promotion: 23.10.2009
Erscheinungsjahr: 2010Abstract
The CIX detector is a direct converting hybrid pixel detector designed for medical X-ray
imaging applications. Its de ning feature is the simultaneous operation of a photon counter
as well as an integrator in every pixel cell. This novel approach o ers a dynamic range of
more than ve orders of magnitude, as well as the ability to directly obtain the average
photon energy from the measured data. Several CIX 0.2 ASICs have been successfully
connected to CdTe, CdZnTe and Si sensors. These detector modules were tested with
respect to the imaging performance of the simultaneously counting and integrating concept
under X-ray irradiation. Apart from a characterization of the intrinsic bene ts of the
CIX concept, the sensor performance was also investigated. Here, the two parallel signal
processing concepts o er valuable insights into material related e ects like polarization and
temporal response. The impact of interpixel coupling e ects like charge-sharing, Compton
scattering and X-ray uorescence was evaluated through simulations and measurements.Contents
1. Introduction : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 5
2. X-ray imaging : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 7
2.1 Fundamental principles of medical X-ray imaging . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2.1.1 Photoelectric e ect and X-ray uorescence . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.1.2 Compton scattering . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.2 Medical X-ray imaging techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.2.1 Projection radiography . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.2.2 Computed tomography . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.3 X-ray detector concepts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.4 Signal formation in direct converting pixel detectors . . . . . . . . . . . . . . . 16
2.5 Direct converting sensor materials . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.5.1 Silicon . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.5.2 CdTe and CdZnTe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
2.6 Additional considerations for hybrid pixel detectors . . . . . . . . . . . . . . . 26
3. CIX 0.2 detector : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 29
3.1 Concept . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.2 CIX 0.2 ASIC speci cations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.3 CIX 0.2 pixel cell concept . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.3.1 Photon counter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.3.2 Integrator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
3.3.3 Feedback . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.3.4 Static leakage current compensation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
3.3.5 Dynamic leakage current compensation . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.3.6 Issues with the leakage current compensation . . . . . . . . . . . . . . 40
3.4 CIX 0.2 modules . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.4.1 Sensor overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.4.2 Module assembly . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.4.3 Module overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
3.5 Chip periphery . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
4. ASIC performance - Electrical tests on bumped CIX 0.2 modules : : : : : : : 49
4.1 Measurement conditions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.2 Calibration of the charge injection circuits . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.2.1 Current chopper . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.2.2 Bipolar switched capacitance chopper . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
4.2.3 Other charge injection circuits . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
4.3 Dynamic range . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
4.3.1 Counter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
4.3.2 Integrator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 594.4 Noise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
4.4.1 Counter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
4.4.2 Integrator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
5. CIX X-ray test setup : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 67
5.1 X-ray tube . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
5.2 X-Y stage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
5.3 Mechanical chopper . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
6. Sensor material characterization : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 71
6.1 Leakage current . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
6.1.1 Bias dependence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
6.1.2 Temperature dependence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
6.1.3 Photon ux dep . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
6.2 Temporal response . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
6.2.1 Long-term response . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
6.2.2 Short-term response . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
6.2.3 Concluding remarks on the temporal response . . . . . . . . . . . . . . 85
6.3 Module homogeneity and lateral polarization . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
6.3.1 Potential chip-based inhomogeneities . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
6.3.2 Sensor-based inhomogeneities . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
6.4 Spectroscopic performance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
2416.4.1 Am spectra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
6.4.2 Charge collection e ciency . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
6.4.3 Tube spectra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
7. CIX module performance under X-ray irradiation : : : : : : : : : : : : : : : : : 97
7.1 Dynamic range . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
7.1.1 Counter dynamic range . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
7.1.2 Integrator range . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
7.2 Noise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
7.2.1 Counter noise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
7.2.2 Integrator noise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
7.2.3 Noise correlations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
7.3 Average photon energy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
8. X-ray images : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 117
8.1 Raw data and at eld corrections . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
8.2 Beam hardening . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
8.3 Oversampling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
8.4 Average photon energy and contrast enhancement . . . . . . . . . . . . . . . . 121
9. Conclusion and outlook : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 127
9.1 Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
9.2 Outlook . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129
Appendix 131
A. Di erential current logic : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 1333
B. CIX 0.2 readout : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 135
C. Threshold scans and tuning : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 137
Bibliography : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 139
Acknowledgements : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : 14241. Introduction
In high energy physics pixellated semiconductor detectors have evolved into a standard
tool for the reconstruction of particle tracks. Owing to the small physical dimensions of
1the detector’s pixel cells, these detectors o er very high position resolutions. However, as
standard high energy physics particle detectors are equipped with Si sensors, they su er
from a low X-ray absorption probability. Thus, alternative sensor m