Multilayer Mirrors for Attosecond Pulse Shaping between 30 and 200 eV [Elektronische Ressource] / Michael Hofstetter. Betreuer: Ulf Kleineberg

"Michael Hofstetter"

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• Publié par: ludwig-maximilians-universitat_munchen
• Publié le: 01 janvier 2011
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Multilayer Mirrors for Attosecond
Pulse Shaping between 30 and 200 eV
Michael Hofstetter
München 2011Multilayer Mirrors for Attosecond
Pulse Shaping between 30 and 200 eV
Michael Hofstetter
Dissertation
an der Fakultät für Physik
der Ludwig–Maximilians–Universität
München
vorgelegt von
Michael Hofstetter
aus Regensburg, Deutschland
2011Erstgutachter: Prof. Dr. Ulf Kleineberg
Zweitgutachter: PD. Dr. Bert Nickel
Tag der mündlichen Prüfung: 27. Juli 2011To Elenai
Abstract
Attosecond(as)physicshasbecomeawidespreadedandstillgrowingresearch
fieldoverthelastdecades. Itallowsforprobingandcontrollingcore-andouter
shell electron dynamics with never before achieved temporal precision.
High harmonic generation in gases in combination with advanced extreme
ultraviolet (XUV) optical components enable the generation of isolated at-
tosecond pulses as required for absolute time measurements. But until re-
cently, single attosecond pulse generation has been restricted to the energy
range below 100 eV due to the availability of sources and attosecond optics.
Multilayer mirrors are the up to date widest tunable optical components in
the XUV and key components in attosecond physics from the outset.
In this thesis, the design, fabrication and measurement of periodic and
aperiodic XUV multilayer mirrors and their application in the generation
and shaping of isolated attosecond pulses is presented. Two- and three mate-
rial coatings based on a combination of molybdenum, silicon, boron carbide,
lanthanum and scandium covering the complete spectral range between 30
and 200 eV are developed and characterized. Excellent agreement between
reflectivitysimulationsandexperimentsisbasedonthehighlystableionbeam
sputter deposition technique. It allows for atomically smooth deposition and
the realization of aperiodic multilayer structures with high precision and re-
producibility. XUV reflectivitysimulationoflanthanumcontainingmultilayer
coatings are based on an improved measured set of optical constants, intro-
duced in this thesis.
This work enabled the generation of the shortest ever measured isolated
lightpulsessofar, thecreationofthefirstisolatedattosecondpulsesabove100
eV, the first demonstration of absolute control of the “attochirp” by means of
multilayer mirrors and the formation of spectrally cleaned attosecond pulses,
in a spectral region which lacks appropriate filter materials, for a never before
achieved combination of spectral and temporal resolution at 125 eV.
Here presented concepts are in principle not restricted to specific energies
or experimental set-ups and may be extended in the near future to enter
completely new regimes of ultrashort physics.ii
Zusammenfassung
In den letzten Jahrzehnten hat sich die “Attosekundenphysik” zu einem weit
verbreiteten und stetig wachsenden Forschungsfeld entwickelt. Sie ermöglicht
sowohl die Untersuchung, als auch die Kontrolle der Dynamik von Elektronen
aus inneren und äusseren Schalen mit vorher nie erreichter Präzession. Durch
die Erzeugung hoher harmonischerXUV Strahlung in Gasen in Kombination
mit optimierten XUV Optiken können isolierte Pulse erzeugt werden und
Absolutzeitmessungen werden möglich. Bis vor kurzem war die Erzeugung
isolierter Attosekundenpulse auf den Spektralbereich unterhalb von 100 eV
begrenzt. DaslagvorallemanderVerfügbarkeitvongeeignetenXUV Quellen
und Optiken. Die spektralen Eigenschaften vonXUV Multilagenspiegeln sind
in einem weiten Bereich einstellbar, weshalb sie seit jeher Schlüsselkomponen-
ten in der Attosekundenphysik sind.
Die vorliegende Arbeit widmet sich dem Design, der Herstellung und der
Messung von periodischen und aperodischen Multilagenspiegeln, sowie deren
Applikation in der Generierung und Optimierung isolierter Attosekunden-
pulse. Zwei- und Drei-Material-Stapel bestehend aus den Materialien Molyb-
dän, Silizium, Borcarbid, LanthanundScandiumwerdenvorgestelltundderen
Eignung für eine komplette Abdeckung des Energiebereichs zwischen 30 und
200eV wird untersucht und experimentell bestätigt. Die nahezu perfekte Um-
setzung von Spiegeldesigns in reale Optiken zeigt sich in der hohen Überein-
stimmung von gerechneten Modellen und Reflektivitätsmessungen und basiert
auf der hohen Stabilität des Ionenstrahlsputterns. Diese Technik ermöglicht
die Deposition nahezu atomar korrekter Schichten und damit die Herstel-
lung selbst aperiodischer Strukturen mit hoher Genauigkeit und Reproduzier-
barkeit. Hier gezeigte gerechnete XUV Reflektivität von Lanthan basierten
Multilagenspiegeln, beruht auf neuen, hier vorgestellten, spektral hochaufge-
lösten Messungungen des Brechungindexes von Lanthan imXUV und nahem
Röntgenbereich.
Die vorliegende Arbeit ermöglichte die Erzeugung der kürzesten, isolierten
jegemessenenLichtblitze,dieerstmaligeGenerierungvonisoliertenAttosekun-
denpulsen mit Zentralenergien oberhalb von 100 eV, die erstmalige quanti-
tative Kontrolle des “Attochirps” von isolierten Pulsen mit Hilfe von Mul-
tilagenspiegeln, sowie die Erzeugung spektral gereinigter Attosekundenpulse.
LetzteresKonzeptermöglichteerstmaligEinzel-Attosekundenexperimentemit
hoher spektraler und zeitlicher Auflösung in Energiebereichen ohne verfügbare
XUV Filter.
Die hier präsentierten Konzepte sind prinzipiell auch für andere Energie-
bereiche und Experimentaufbauten adaptierbar und werden in naher Zukunft
dazu beitragen, in völlig neue Regime der Ultrakurzpulsphysik vorzudringen.Contents
Abstract i
Zusammenfassung ii
Table of Contents iii
1 Introduction: XUV- the spectral range of attosecond physics 1
2 Background on attosecond pulse shaping 5
2.1 Influence of spectrum and phase on the pulse length . . . . . . 5
2.1.1 Time-bandwidth relation . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2.1.2 Dependence of the pulse length on the spectral phase . 8
2.1.3 GDD-noise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.1.4 Requirements on attosecond pulse shaping optics . . . 17
2.2 Extreme ultraviolet attosecond optics . . . . . . . . . . . . . . 18
2.2.1 XUV optical constants . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
2.2.2 The linearity of XUV optics . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.2.3 Single interface reflectance and transmittance . . . . . 22
2.2.4 Multilayer Mirrors . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
2.2.5 Thin metal filters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
2.3 Principles of attosecond pulse generation . . . . . . . . . . . . 40
2.3.1 High harmonic generation in gases . . . . . . . . . . . 42
2.3.2 The generation of single attosecond pulses . . . . . . . 46
2.3.3 Measuring attosecond pulses . . . . . . . . . . . . . . . 51
3 Realization and characterization of XUV multilayer coatings 61
3.1 Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
3.1.1 Ion Beam Sputtering . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
3.1.2 XUV/ soft X-ray reflectometry . . . . . . . . . . . . . 65
3.1.3 Hard X-ray grazing incindence reflectometry (XRR) . 66
3.1.4 Transmission Electron Microscopy (TEM) . . . . . . . 68
3.1.5 Spectral ellipsometry . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
3.1.6 Profilometry . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70iv Table of Contents
3.2 Deposition rate calibration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
3.3 Analyses and improvement of the deposition homogeneity . . . 76
3.4 XUV multilayer material selection between 30 and 200 eV . . 77
3.4.1 Optical constants of Mo, B C, Si, La and Sc . . . . . 784
3.4.2 High spectral resolution measurement ofLa optical con-
stants in the XUV/ soft X-ray range . . . . . . . . . . 79
3.4.3 Simulated reflectivity of broadband and high periodic
multilayer stacks . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
3.5 Quantification of silicide formation in Mo=Si coatings . . . . . 85
3.6 Conversion of mirror design to deposition time . . . . . . . . . 90
4 Applications of multilayer mirrors for as pulse shaping 91
4.1 Ultrashort pulse generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
4.1.1 A normal incidence broadband 30-60 eV mirror . . . . 93
4.1.2 The generation of 80 as XUV pulses . . . . . . . . . . 95
4.2 Attosecond La=Mo mirrors between 80 and 130 eV . . . . . . 101
4.3 Attosecond dispersion control by XUV multilayer mirrors . . 112
4.4 Ternary attosecond spectral cleaning mirrors . . . . . . . . . . 125
4.4.1 Three material multilayer mirrors . . . . . . . . . . . . 126
4.4.2 Spectral cleaning . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132
4.5 High energy La=B C coatings above 150 eV . . . . . . . . . . 1414
5 Conclusions and outlook 145
A Gaussian pulse analyses 151
B Pulse-length in dependence on noisy GDD 153
C Snell’s and Fresnel law; R and T of a multilayer stack 155
D Double period reflectivity of a 3(2)-material stack 159
E Fitting reflectivity data by simulated annealing 163
F 45 degree beam line setup- AS2 165
Bibliography 167
Abbreviations 185
Acknowledgments 187
Peer-Reviewed Publications by the Author 189