La validation de méthode en spectrométrie d’émission optique à source plasma
310 pages
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Description

L’analyse élémentaire a connu des développements instrumentaux majeurs depuis les années 70. C’est tout particulièrement le cas avec la spectrométrie d’émission atomique à source plasma (ICP-OES), commercialisée pour la première fois en 1974, et qui s’est rapidement imposée en se déployant très largement dans les laboratoires de caractérisation.

Bien que l’ICP-OES soit devenue une technique d’analyse de routine, les exigences de la mesure imposent une maîtrise complète du processus opératoire et du système de management de la qualité associé.

L’objectif de cet ouvrage est de guider l’analyste durant tout le processus de validation de sa mesure et de l’aider à garantir la maîtrise de ses principales étapes : gestion administrative et physique des échantillons au laboratoire ; préparation et traitement de ceux-ci avant mesure ; qualification et suivi de l’appareillage ; réglages instrumentaux et stratégie d’étalonnage ; exploitation des résultats en termes de justesse, fidélité, incertitude et exactitude (avec la détermination pratique du « profil d’exactitude »). Le guide s’appuie pour cela sur la terminologie la plus actuelle et sur de nombreux exemples et illustrations destinés à faciliter la compréhension et la constitution des dossiers de validation de méthode.

Cet ouvrage collectif a été constitué dans le cadre des travaux de la Commission d’ÉTAblissement des Méthodes d’Analyses du Commissariat à l’Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives. Trente-huit spécialistes de l’ICP-OES, travaillant dans des laboratoires de recherches de grands organismes (AREVA, ARKEMA, CEA, C2RMF, EDF, EURODIF, IRSN) et d’Universités (Université de Pau et des Pays de l’Adour, Université Claude Bernard Lyon 1), y ont contribué durant plus de dix ans. 


Sujets

Informations

Publié par
Date de parution 02 novembre 2017
Nombre de lectures 1
EAN13 9782759820832
Langue Français
Poids de l'ouvrage 6 Mo

Informations légales : prix de location à la page 0,8450€. Cette information est donnée uniquement à titre indicatif conformément à la législation en vigueur.

Extrait

CETAMA
La validation de méthode en spectrométrie d’émission optique à source plasma
De l’échantillon au résultat
Sous la direction de Fabien Pilon, Alexandre Labet, Karine Vielle, Olivier Vigneau, Guy Granier, Philippe Bienvenu et JeanMichel Mermet
Sous la direction de
Fabien Pilon, Alexandre Labet, Karine Vielle, Olivier Vigneau, Guy Granier, Philippe Bienvenu, JeanMichel Mermet
La validation de méthode en spectrométrie d’émission optique à source plasma (ICPOES) : de l’échantillon au résultat
ONTCONTRIBUÉÀCETOUVRAGE: ChristelleADAM, JeanineAMIEL, NadègeARNAL, RégineARNAUD, Céline AUGERAY, AlexandreBELLEFLEUR, AndréBERES, PhilippeBIENVENU, JeanClaude BIROLLEAU, JeanMarcBLANCHARD, BéatriceBOULET, DavidBOURGARIT, Valérie BOYERDESLYS, RenéBRENNETOT, VéroniqueBROUDIC, VirginieCAMILLERI, MagaliCELIER, RenéCHEVILLOTTE, NicoleDELTEIL, JoëlFAURE, PascalFICHET, GilbertFUCHS, GuyGRANIER, AlineKLELIFA, AlexandreLABET, GillesLECOQ, CarolineMARQUES, JeanMichelMERMET, RégisMICHEL, BenoîtMILLE, Hugues PAUCOT, MarinePIERRE, FabienPILON, CédricRIVIER, JeanFrançoisTESSIER, NathalieVAISSIÈRES, KarineVIELLE, OlivierVIGNEAU. (Voir liste détaillée p. 305.)
RELECTEURSSCIENTIFIQUES: HuguesPAUCOT(Formations & Conseil UT2A, docteur en Sciences de l’Université Libre de Bruxelles), ÉricANSOBORLO(CEA Marcoule, docteur en Chimie Appliquée de l’École Centrale Paris).
Mise en forme du manuscrit : AstridEMERY(Graphiste / Assistante d’édition – Prestataire indépendante).
Illustration de couverture : Image d’un plasma d’argon issu d’un générateur radiofré quence (© CEA).
Imprimé en France
ISBN (papier) : 9782759820627  ISBN (ebook) : 9782759820832
Tous droits de traduction, d’adaptation et de reproduction par tous procédés, réservés pour tous pays. La loi du 11 mars 1957 n’autorisant, aux termes des alinéas 2 et 3 de l’article 41, d’une part, que les « copies ou reproductions strictement réservées à l’usage privé du copiste et non destinées à une utilisation collective », et d’autre part, que les analyses et les courtes citations dans un but d’exemple et d’illustration, « toute représentation intégrale, ou partielle, faite sans le consente er ment de l’auteur ou de ses ayants droit ou ayants cause est illicite » (alinéa 1 de l’article 40). Cette représentation ou reproduction, par quelque procédé que ce soit, constituerait donc une contrefaçon sanctionnée par les articles 425 et suivants du code pénal.
© EDP Sciences 2017
Table des matières
PréfaceListe des abréviations, sigles et acronymes
Chapitre 1Introduction • 1 Principes fondamentaux de l’ICPOES 1.1 Excitation et relaxation 1.2 Domaine de longueurs d’onde 1.3 Identification des raies 1.4 Définition d’un plasma 1.5 Gaz plasmagène (ou de refroidissement) 1.6 Mécanisme d’excitation dans un plasma du type ICP 2 Instrumentation 2.1 Genèse du plasma 2.2 Torche et mode d’observation 2.3 Systèmes d’introduction des échantillons 2.4 Spectromètres 2.4.1 Réseaux 2.4.2 Spectromètres 2.5 Détecteurs 2.5.1 Tubes photomultiplicateurs 2.5.2 Détection multicanal
 25  27
 31  33  33  34  34  35  35  35  36  36  37  39  39  39  40  40  41  41
3
4
La validation de méthode en spectrométrie d’émission optique à source plasma (ICPOES)
3 Spectres observés 4 Mesures et interférences 4.1 Mesures 4.2 Description des interférences 4.2.1 Les interférences nonspectrales 4.2.2 Résolution des interférences nonspectrales 4.2.3 Les interférences spectrales 4.2.4 Résolution des interférences spectrales 5 Cahier des charges 6 Plan du livre
Chapitre 2Définitions • 1 Introduction 2 Matériau 2.1 Matrice et analyte 2.2 Vocabulaire associé aux concentrations des analytes 2.3 Échantillonnage 2.4 Échantillon 2.5 Prise d’essai 3 Processus de mesure 3.1 Mesurage 3.2 Mesurande & grandeur 3.3 Indication 3.4 Méthode & procédure 3.5 Résultat 3.6 Validation de la méthode de mesure 4 Procédure de mesure 4.1 Préparation des blancs 4.1.1 Blanc de matrice 4.1.2 Blanc de réactifs 4.1.3 Blanc instrumental 4.1.4 Blanc de méthode 4.2 Étalonnage 4.2.1 Définitions 4.2.2 Solution d’étalonnage 4.2.3 Solution de vérification 4.2.4 Dérive instrumentale 4.3 Mesurage 4.3.1 Signal (brut, net, stabilité)
 42  43  43  43  43  44  44  45  46  47
 49  49  50  50  50  50  51  51  51  52  52  52  52  53  54  54  54  54  55  55  55  55  55  56  56  56  56  56
4.3.2 Bruit 4.3.3 Correction de fond 4.3.4 Rapport signal sur bruit 4.3.5 Rapport signal sur fond 4.3.6 Répliques 4.3.7 Résolution spectrale et pouvoir de résolution 4.4 Résultat 4.4.1 Valeur d’une grandeur 4.4.2 Valeur vraie 4.4.3 Valeur de référence 5 Qualités analytiques 5.1 Erreurs 5.2 Exactitude 5.3 Justesse 5.4 Fidélité 5.5 Conditions de répétabilité 5.6 Répétabilité de mesure 5.7 Conditions de fidélité intermédiaire 5.8 Fidélité intermédiaire de mesure 5.9 Conditions de reproductibilité 5.10 Reproductibilité de mesure 5.11 Incertitude de mesure 5.12 Limite de détection 5.13 Limite de quantification 5.14 Linéarité 5.15 Robustesse 5.16 Sensibilité 5.17 Sélectivité 5.18 Traçabilité métrologique
Table des matières
Chapitre 3Gestion des échantillons au laboratoire • 1 Introduction 2 Gestion administrative 2.1 De la réception des échantillons à l’émission des résultats 2.2 Exigences normatives 2.3 Exemple de procédure 3 Gestion physique 3.1 Choix du conditionnement 3.2 Précautions de stockage
 57  57  58  58  58  58  58  58  59  59  59  59  60  61  61  61  61  61  62  62  62  62  63  63  63  63  64  64  64
 65  65  65  65  67  67  71  71  71
5
6
La validation de méthode en spectrométrie d’émission optique à source plasma (ICPOES)
3.2.1 Causes d’instabilité 3.2.2 Parades possibles 3.3 Exemple de procédure
Chapitre 4 • Préparation et traitement des échantillons avant analyse1 Introduction 2 Contraintes et précautions à prendre 3 La transformation solide – liquide 3.1 Les réactifs 3.1.1 L’eau 3.1.2 Les acides 3.1.3 Les fondants 3.1.4 Les solvants organiques 3.2 L’attaque acide 3.2.1 Principe 3.2.2 Spécificités des acides et de leurs mélanges 3.2.3 Le matériel associé 3.2.4 Des étapes préliminaires possibles : la fusion alcaline, le frittage, la calcination 3.2.5 Exemples de préparation avec attaque acide 4 L’extraction liquide – liquide 5 La transformation liquide – gaz
Chapitre 5 • Qualification et suivi de l’appareillage1 Principe général des tests de qualification 2 Qualification de l’installation 2.1 Temps de stabilisation 2.1.1 Procédure 2.1.2 Résultats 2.2 Stabilité à long terme 2.2.1 Procédure 2.2.2 Résultats 2.3 Transfert d’énergie 2.3.1 Procédure 2.3.2 Résultats 2.4 Sensibilité et répétabilité 2.4.1 Procédures 2.4.2 Résultats
 72  73  73
 83  83  86  87  87  87  87  88  88  89  89  90  93
 94  96 100 101
103 104 105 106 106 106 107 107 107 108 109 109 110 110 110
2.5 Limite de détection 2.5.1 Procédure 2.5.2 Résultats 3 Résolution 4 Temps de dépollution 5 Qualification opérationnelle 5.1 Tests de premier niveau 5.1.1 Performances de l’appareil 5.1.2 Propreté de l’appareil 5.2 Tests de deuxième niveau 5.2.1 Conditions énergétiques du plasma 5.2.2 Efficacité et répétabilité de la nébulisation 5.2.3 Résolution 5.2.4 Propreté de l’optique 5.2.5 Performances 5.3 Tests de troisième niveau 6 Qualification de performances 7 Conclusion
Table des matières
Chapitre 6Réglages instrumentaux et stratégie d’étalonnage • 1 Les paramètres opératoires 1.1 Paramètres instrumentaux 1.1.1 Systèmes d’introduction 1.1.2 Les conditions de plasma 1.2 Paramètres d’acquisition et d’exploitation des signaux 1.2.1 Temps d’intégration 1.2.2 Nombre de répliques 1.2.3 Mode d’intégration (surface/hauteur) et nombre de points 1.2.4 Exploitation du signal (intensité brute/nette, correction de fond) 1.2.5 Sélection des raies et problématiques associées 2 Les paramètres liés à la prise en compte des effets de matrice 2.1 Notion de robustesse 2.2 Changement de la répartition spatiale de l’analyte 2.3 Robustesse et effet dépressif dans la zone d’observation 2.4 Tests pour vérifier un effet dépressif identique pour tous les analytes 2.5 Étalonnage interne 2.6 Conclusion
111 111 112 112 113 114 114 114 115 115 116 116 117 117 117 119 120 121
123 123 124 124 139 145 145 148 151
157 158 160 161 162 164
164 166 167
7
8
La validation de méthode en spectrométrie d’émission optique à source plasma (ICPOES)
3 Les paramètres associés à l’étalonnage 3.1 Rappels théoriques 3.1.1 Principe de l’étalonnage 3.1.2 Régression linéaire 3.1.3 Vérification de la linéarité 3.1.4 Observation des résidus 3.1.5 Incertitude sur la concentration 3.1.6 Pondération 3.1.7 Autres types de régression 3.1.8 Réétalonnage 3.2 Applications 3.2.1 Comparaison des mesures indépendantes et dépendantes 3.2.2 Influence de la pondération 3.2.3 Influence du nombre d’étalons 3.2.4 Phénomènes de courbure 3.2.5 Optimisation 3.3 Conclusion
Chapitre 7 • Exploitation des résultats1 Évaluation de la justesse, de la fidélité et des incertitudes 1.1 Évaluation de la justesse 1.1.1 À partir de matériaux de référence 1.1.2 Sans matériau de référence 1.2 Évaluation de la fidélité 1.3 Évaluation de la reproductibilité 1.4 Évaluation des incertitudes 1.4.1 Introduction 1.4.2 Rappel des notions de base : estimation des incertitudes élargies 1.4.3 Incertitude liée à un pipetage 1.4.4 Incertitude liée à un ajustement de volume 1.4.5 Incertitude liée à une pesée 1.4.6 Application à une mesure en ICPOES 1.4.7 Conclusion 2 Détermination des limites de détection et de quantification 2.1 Limite de détection 2.1.1 Signal 2.1.2 Bruit
167 168 168 168 171 177 178 187 192 199 201
201 202 209 211 218 220
223 223 223 224 226 227 227 228 228
228 230 232 234 235 237 237 237 237 239
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